Contenu du Niveau 2

• Groupe cible : Utilisateurs et métrologues
• Conditions préalables : Certificat AUKOM niveau 1
• Objectifs : Le séminaire consolide les connaissances de base de la métrologie pour les les métrologues avancés. L'approche didactique utilisée dans le séminaire est basée sur les dernières découvertes. Le séminaire couvre les dernières connaissances en matière de tolérance dimensionnelle, de bases de programmation, de planification des processus de mesure et de technologie des machines et des capteurs utilisés. La compréhension améliorée de la mesure et des paramètres externes permet aux techniciens de réduire les incertitudes de mesure et donc de rendre les résultats de mesure plus fiables et plus faciles à comparer.
• Durée du cours : 5 jours
• Achèvement : Examen avec certificat AUKOM niveau 2

2-1 Aperçu du processus de mesure complet
Bref rappel du contenu du niveau 1.

2-2 Éléments géométrique
Éléments géométriques standard, Points de surface, Oblong, Hexagone, Symétrie, Perpendicularité, Parallélisme, Angle dans l'espace, Transformations du système de coordonnées.

2-3 Tolérances de forme et de position
Introduction aux tolérances de forme et de position (ISO et ASME), Symboles de cotation, Désignation de la référence, Tolérances générales, principe d'indépendance et exigence d'enveloppe, Règle ASME n°1.

2-4 Stratégie de mesure
Définition des conditions de bridage et des références, Choix du système d’axes et de l’origine, Alignement itératif, Alignement 3-2-1, Best-fit (3D fit), Élément de mesure et éléments auxiliaires, mesure de profils, etc.

2-5 Stratégie de palpage - Contact
Nombre et répartition des points de palpage, Force et vitesse de palpage, Propriétés du matériau, Diamètre du stylet, Stylets spéciaux, Scanning continu.

2-6 Stratégie de palpage – Analyse d’image
Mesure plein champ, mesure multi-points, Détection de bord, Traitement l'image, Optiques, Éclairages, Filtre, Numérisation, Mise au point automatique (Autofocus).

2-7 Stratégie de palpage – Capteur de distance
Capteurs à triangulation laser, Capteur principe Foucault, Capteur à lumière blanche, Capteur à frange, Photogrammétrie, Influence sur les résultats de mesure.

2-8 Tomographie par ordinateur
Principe physique, tomographie sur l'image, premiers prélèvements, écarts par rapport à la géométrie nominale, mesure des sections, vérification de la structure du matériau.

2-9 Programmation CNC
Apprentissage, Programmation Offline, Mesure surfacique avec CAO, Variables, Modules et programmes.

2-10 Mesure des formes gauches
Types d’éléments en surfacique, Effet du Best-fit 3D, Stratégies de mesure, Méthodes de programmation.

2-11 Évaluation
Critères d’évaluation : Méthodes d’évaluation axées sur la fonction et la fabrication, Différences dans les méthodes d’association (Gauss, enveloppe, exigence minimum), Constructions, Évaluation graphique et littérale.

2-12 Effets sur le résultat de mesure
Effets sur le résultat de mesure, Réduction de l’incertitude de la mesure, Détection et réduction des causes systématiques et aléatoires, Compensation de la température.

2-13 Documentation
Principes de conception et de standardisation de la documentation, Évaluations graphiques, Tracé des défauts de forme et Rapports de mesure.

2-14 Bonnes pratiques pour la mesure
Bonnes pratiques dans la mesure, Nécessité d’une coopération inter-services.